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NI用户成功解决方案荟粹研讨会

场次安排:     起止时间: 2006-02-22 至 2006-03-24

专为以下工程师度身定制:
--渴望得到产品测试或设计的完整解决方案
--希望通过实际案例来更好理解NI产品
--从事消费类电子(手机,DVD等),射频产品,芯片以及PCB板,声音震动等产品的设计与测试的工程师

通过本场研讨会,您将学习到:
--学习到诸多行业产品测试的最新解决方案,尤其是针对通讯,消费电子和IC行业的测试;
--通过具体的解决方案快速构建功能强大、灵活的测试系统
--通过实际案例更深刻的理解NI虚拟仪器的软硬件体系结构,以更好的发挥其优势
--通过这些案例了解测试行业的最新趋势与动态

在研讨会上,NI主讲工程师将现场讲解客户成功使用的案例,帮助您更快速的构建测试系统

本次研讨会介绍的用户解决方案包括:
--微软Xbox 360的测试系统
--手机LCD,键盘等的测试系统
--RF分析系统
--DVD测试系统
...........

本次研讨会涉及的产品包括:
NI最新的软硬件产品,包括PXI,数据采集、模块化仪器、仪器控制等

时间和地点:
2006/03/24 东莞 14:00-17:00 东莞银城酒店四楼名仕1号厅(东莞市南城区莞太大道48号)

更多信息请访问www.ni.com/china,或与NI上海分公司联系:上海市曲阳路800号商务大厦6楼(200437),电话:(021)65557838,传真:(021)65556244,E-mail:china.info@ni.com。免费咨询电话:800 820 3622

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