利用NI模块化仪器搭建ATE测试平台技术研讨会

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专为以下工程师度身定制：
- 想用PXI平台和模块化仪器创建ATE测试平台
- 对系统的定时和同步要求严格
- 需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容

您将通过本场研讨会：
- 了解在创建基于PXI的ATE测试系统时需要考虑的事项
- 学习常用配置、编程难点以及如何克服这些难点

涉及的产品包括：
2输入/2输出 24位动态信号采集与生成设备
200 MHz 信号发生器
200 MHz 高速数字化仪
数字万用表和开关
射频测量设备

时间与地点：　　
2005年8月24日 14:00-17:00 北京天鸿科园大酒店三楼金辉厅(北京市海淀区知春路25号）
2005年8月26日 14:00-17:00 天津泰达国际酒店一楼报告厅(天津经济开发区第二大街8号)
2005年8月30日 14:00-17:00 石家庄河北世纪大饭店4楼锦源厅(石家庄市中山西路145号)

在两个小时的研讨会中，NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示，帮助您进一步理解基于PXI的ATE测试平台优势所在。

* 为了帮助您从本次研讨会中取得最大的收获，我们建议您先期参加如下NI研讨会或预先具备相应知识为宜：
- 基于计算机技术的测量与自动化系统
- LabVIEW
-了解示波器、万用表、信号源的基本运作

了解更多有关LabVIEW的详细信息，请访问ni.com/china/labview。或与NI上海分公司联系：上海市曲阳路800号商务大厦6楼（200437），电话:(021)65557838，传真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免费咨询电话：800 820 3622

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