2007 深圳消费电子测试应用研讨会

专为以下工程师度身定制
1.专为通讯，消费电子和IC行业的测试而创建的ATE测试平台
2.渴望加速产品开发周期并大幅提高效率
3.需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容

通过本场研讨会，您将学习到
1.了解在创建基于PXI/PXI Express的ATE测试系统时必需的技术要点，尤其是针对通讯，消费电子和IC行业的测试
2.学习上述行业设计和测试的难点以及如何克服这些难点
3.通过实际的案例学习模块化仪器的应用

本次研讨会将涉及以下产品
1.7位半数字万用表和开关模块
2.2 GS/s 高速数字化仪
3.200M 任意波形发生器
4.400M LVDS高速数字I/O
5.最新2.7G 矢量信号发生器 PXIe-5672
6.最新2.7G 矢量信号分析仪 PXI-5661
7.最新16 通道 24位 动态信号采集设备 PXI-4496

会议安排
时间：10月25日 14:00-17:00
地点：深圳圣廷苑酒店2楼多功能I会议厅 (深圳福田区华强北路4002号)

网络学习资源
LabVIEW8.5中文评估版软件
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