深入了解数字信号测试应用研讨会
场次安排： 1月15日 上海 起止时间： 2004-04-13 至 2008-01-15
简介:
高速的数字电路和通信系统的测试在当今变得越来越普遍，本次研讨会将涉及高速数字信号测试的基本概念并指导用户构建数字自动化测试系统。同时您将深入了解到最常用的两类数字应用：数字接口测试和数字激励／响应测试，涉及的具体应用包括LCD测试，功能测试以及比特误码率测试等。研讨会上还将贯穿实际的应用演示和真实的案例分析，帮助您更好的理解数字信号的测试应用。
您将通过本次研讨会：
了解数字信号测试的基本概念和发展趋势
了解NI提供的高速数字信号测试解决方案
共同探讨不同的数字信号应用和实例分析
涉及的产品/应用/演示包括：
PXI，高速数字I/O，LabVIEW
用户案例介绍：
LCD测试和高速数据流盘
网络资源：
LabVIEW8.5中文评估版软件
PXI Express混合信号仪器视频教程
时间地点：
2008年1月15日 14：00——17：00（13：45开始进场）
上海新锦江大酒店4楼兰花厅（上海卢湾区长乐路161号）
高速的数字电路和通信系统的测试在当今变得越来越普遍，本次研讨会将涉及高速数字信号测试的基本概念并指导用户构建数字自动化测试系统。同时您将深入了解到最常用的两类数字应用：数字接口测试和数字激励／响应测试，涉及的具体应用包括LCD测试，功能测试以及比特误码率测试等。研讨会上还将贯穿实际的应用演示和真实的案例分析，帮助您更好的理解数字信号的测试应用。
您将通过本次研讨会：
了解数字信号测试的基本概念和发展趋势
了解NI提供的高速数字信号测试解决方案
共同探讨不同的数字信号应用和实例分析
涉及的产品/应用/演示包括：
PXI，高速数字I/O，LabVIEW
用户案例介绍：
LCD测试和高速数据流盘
网络资源：
LabVIEW8.5中文评估版软件
PXI Express混合信号仪器视频教程
时间地点：
2008年1月15日 14：00——17：00（13：45开始进场）
上海新锦江大酒店4楼兰花厅（上海卢湾区长乐路161号）
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