NI 2006设计、应用及测试论坛

嵌入式系统设计和测试专题 为以下工程师度身定制：
• 嵌入式系统设计工程师和控制设计工程师
• 电路设计工程师
• 嵌入式系统测试研发人员
• 对设计和测试最新技术感兴趣的软/硬件工程师

部分专题概览：
• 使用SignalExpress进行自动化的设计与验证
• 如何缩短嵌入式系统的设计周期
• 无需掌握VHDL，体验图形化的FPGA编程
• 最新的FPGA调试技术
• 电路设计与仿真最新技术介绍

自动化测试专题 为以下工程师度身定制：
• 测试测量与自动化行业的工程师和研究人员
• 生产线测试研发和技术工程师
• 对自动化测试系统感兴趣的专业人士

部分专题概览：
• 支持多种传感器信号的便携式数据采集系统
• 最新PCI Express和测试测量总线技术
• 基于实时技术的可靠性测试和控制
• 射频领域和多种行业领域内NI的解决方案
NI和系统联盟商将为您献上自动化测试的最新技术和解决方案，并提供测试测量工程师们互相交流和学习的最佳平台。

测试经理高峰论坛（2小时）
为测试经理和高层人员提供一个学习与交流的平台：
• 掌握最新测试技术的发展方向；展望未来测试平台的系统架构
• 探讨您在测试中面临的挑战，获取最佳解决方案
欢迎广大测试经理们踊跃报名此次高峰论坛！（名额有限，凭确认函入场）

时间与地点
2006/9/21 北京9:00 – 17:00 北京天鸿科园大酒店（海淀区　知春路25号）

"DVTF 2006参与有礼计划”隆重启动！
1）即日起至9月8日之间报名的听众，将免费享用会议当日的精美商务午餐
2）全天参与技术讲座满5场（含主题演讲）并完整填写会议咨询表的听众，都将获赠精美礼物一份

更多信息请访问www.ni.com/china，或与NI上海分公司联系：上海市曲阳路800号商务大厦6楼（200437），电话:(021)65557838，传真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免费咨询电话：800 820 3622

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