NI PXI自动化测试系统如何帮助高测试效率
场次安排: 08/15 东莞|08/26 广州 起止时间: 2007-02-09 至 2008-08-26
简介:
基于PXI的生产线自动测试方案能够帮助您在最短的时间内完成尽可能多的测试项目,提高您的生产测试效率,降低测试的坏品率。通过此次研讨会您将了解最新的产线自动化测试发展趋势,并通过两个实际的自动化测试案例授予您如何构建高效低成本的产线并行测试系统的秘籍。
本次研讨会专为以下工程师量身定做/精心设计:
生产线测试工程师以及系统开发人员
您将通过本次研讨会:
如何借助于PXI的同步平台开发数字万用表(DMM)+开关(Switch)的顺序测试系统,以大幅提高测量速度
如何利用PXI的模块化仪器完成多个待测部件(UUT)的并行测试,节省测试成本
如何使用TestStand测试管理软件,智能协调不同测试信号的并行测试,提高混合信号的测试效率
涉及的产品/应用/演示包括:
PXI DMM,PXI开关模块
NI Switch Executive
基于TestStand快速构建自动协调的并行测试
用户案例介绍:
Flextronics基于NI平台的产线测试解决方案
时间地点
08/15 东莞 14:00-17:00
东莞市会展国际大酒店4楼8号厅(东莞市新城区中心会展北路)
08/26 广州 14:00-17:00
广州天伦万怡大酒店3楼M7会议厅(广州市天河区林和中路172号)
更多研讨会资料
利用NI LabVIEW的并行化技术来提高测试的吞吐量
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