NI模块化仪器应用巡回研讨会

（需要帮助吗？免费咨询电话:8008203622,或点击“请NI工程师联系我，给我提供技术咨询服务！”）

专为以下工程师度身定制：
--专为通讯，消费电子和IC行业的测试而创建的ATE测试平台
--渴望加速产品开发周期并大幅提高效率
--需要更进一步了解NI模块化仪器(ni.com/china/mi)产品及应用详细内容

* 为了帮助您从本次研讨会中取得最大的收获，我们建议您先期参加如下NI研讨会或预先具备相应知识为宜：
--基于计算机技术的测量与自动化系统
--了解示波器、万用表、信号源等的基本运作

您将通过本场研讨会：
--了解在创建基于PXI的ATE测试系统时必需的技术要点，尤其是针对通讯，消费电子和IC行业的测试
--学习上述行业设计和测试的难点以及如何克服这些难点
--通过实际的案例学习模块化仪器的应用

涉及的产品包括：
--2输入/2输出 24位动态信号采集与生成设备
--200 MHz 信号发生器
--200 MHz 高速数字化仪
--100 MHz 高速数字IO
--数字万用表和开关模块
--射频测量和发生设备
--最新的7位半数字万用表 - NI PXI-4071
--最新的可变分辨率数字化仪 - NI PXI-5922

在三个小时的研讨会中，NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示，帮助您进一步理解基于PXI的模块化仪器的优势所在。

时间和地点：
6月7日 15:00-17:30 绵阳九龙宾馆会议中心一楼第一会议室(绵阳市科学城一区)
6月14日 15:00-17:30 重庆万豪酒店8楼夏厅(重庆市青年路77号)
6月21日 14:00-17:00 武汉湖滨花园酒店观湖楼二楼厅3.4 (武汉市武昌珞瑜路115号)

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了解更多有关LabVIEW的详细信息，请访问ni.com/china/labview。或与NI上海分公司联系：上海市曲阳路800号商务大厦6楼（200437），电话:(021)65557838，传真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免费咨询电话：800 820 3622

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