宇电多回路温控器品质卓越，满足半导体制造多样化测试需求

随着半导体产业走入芯片融合时代，工艺和应用的复杂度不断提升，想要生产出好的产品，“测试先行”尤为重要。测试设备主要用于半导体制造过程中检测芯片性能与缺陷，几乎每一道工艺完成后都要进行，其中高精度温度控制贯穿于整个测试环节的始末。

宇电合作伙伴中，江苏某高端测试仪器和设备供应商，专业从事光网络测试、光芯片测试、电性能测试和功率芯片测试。自2020年起，激光器芯片老化测试需求激增，对温控器品质和性能的要求更苛刻，一直在寻求激光器老化设备的理想温控解决方案。

通过对比验证，宇电AI-7548D71温控器在控制效果、通讯速度、安全性与稳定性方面完全满足该设备供应商在不同测试场景下的多样化需求。提升测试结果的准确性和可靠性。

客户评价：“我们曾在设备上进行过不同品牌温控系统的控制测试。结果显示，宇电AI-7548D71温控模块的控制效果明显优于其他品牌，与国际品牌控温效果一致。”

宇电多路温控器 全面提升设备控制品质

激光器老化测试设备的温度一般为40-150℃，芯片对温度变化极为敏感，任何微小的波动将对测试结果产生显著影响，宇电制定的温度控制方案为设备生产商解决生产难题。

高精度温控，提高筛选不良品效率

宇电AI-7548D71温控器搭载的高精密APID自整定自适应算法，将外部干扰引起的温度波动控制在最小限度内，提供稳定测试环境，帮助设备商筛选出，因温度极端变化导致的焊料老化、分层、键合线脱落、断裂的不良芯片。

多通道独立控制，功能灵活

老化设备同时测试多颗芯片，需要对每个测试夹具中的温度进行单独控制，观察芯片在极端环境中的表现。

宇电AI-7548D71温控器具有多通道独立控制功能，灵活性强，确保每个芯片都能在其特定的温度条件下进行测试，进一步提高测试的准确性和可靠性。

精巧设计，节省安装空间

为提高结果准确性，要在大量样本上进行测试，温控点位增多，而老化测试设备集成度高，柜内空间有限。宇电AI-7548D71温控器设计精巧，宽度仅22.5mm，单台仪表集成4路控制功能，节省宝贵的安装空间。

结语

宇电AI-7548D71工业温控器除应用在半导体制造环节，还可应用于如锂电等多种行业，降本增效，节约能耗，实现价值最大化。

随着全球对芯片需求的激增，晶圆厂、设备商和供应链的所有环节都在不断优化工艺，利用新技术尽可能提高产能和品质。宇电将继续与工业客户紧密合作，利用先进的温控技术帮助客户缩短测试周期，持续提升测试良率，优化成本控制，帮助客户在激烈的市场竞争中脱颖而出，用科技赋能半导体等行业高质量发展。