NI数据采集全国巡回研讨会成功启航

早春三月，NI公司“构建完整的数据采集系统”全国主题巡回研讨会在上海和北京两大城市相继拉开了帷幕，共吸引了四百余名需要测试测量应用的专业人士到场。3月24日的上海站和3月31日的北京站活动分别选在上海图书馆和北京中国国家图书馆的会议厅举行，这两座文化宝库的清雅书香更衬托了NI研讨会的高技术含量以及以用户为本的服务理念。



全天的研讨会由NI资深工程师主持，分别以数据采集的硬件和软件为讲题安排上、下午两场会议，并在其间穿插最新的技术发展分析、现场应用演示、以及演讲者和与会者之间互动的交流时间。上海、北京两地的会议现场都座无虚席，听众反应热烈，因为NI的研讨会将产品技术和实际应用完美地结合在一起，能提供高质量的解决方案，满足用户们不断更新的测试测量需求。

会议的重点议程包括测试软硬件的2个方面：

1.在基于计算机的数据采集或测量中（通常这会涉及到模数转换器），即使有经验的工程师也会对硬件指标中的一些常见术语的含义产生困惑，例如：精度（accuracy），分辨率（resolution），敏感度（sensitivity），精密性（precision）。一个常见的错误就是把仪器里模数转换器的分辨率等同于整个仪器的“有效分辨率”。另一个常见的错误就是认为更高的分辨率总是会给出一个更“好”的测量结果。而事实上，根据测量对象，测量要求的不同，仪器的精度，精密性和敏感度可能会更加重要。NI工程师在会上对这些误区进行了澄清，并且着重指出了影响总体测量精度的一些关键因素，例如增益、偏移误差，以及温度漂移等。

2.测量系统的总成本包括2个部分：显性成本和隐性成本。显性成本是指软硬件产品的成本。NI近期推出了全新高性价比的硬件系列产品，并全面降低了E系列数据采集卡的价格——这表明了NI在致力于采用最新的科技发展、为用户带来高性能的数据采集硬件的同时，尽可能地为用户着想，节省显性成本。而隐性成本就是开发成本，包括系统配置、开发时间、校准方面的投资，由于这些并非“明码标价”，所以常常被用户们所忽视。NI的软件产品可以帮助工程师和科学家们极大地提高效率，缩短开发时间，从而减少测试测量的隐性成本。举例来说，DAQ Assistant（数据采集助手）可以通过硬件配置节省时间，并生成代码；DAQ driver（数据采集驱动）可以完成自校准等。既然显性和隐性两方面的成本都降低了，那么系统总成本无疑是可以令用户满意的。

NI时刻以用户的需求为出发，为各个领域的工程师和科学家们带来性价比合理的高精度测量硬件、帮助缩短开发时间的高集成性测量软件，以及优质、专业的售后技术支持。参加本次巡回研讨会，能使您在最短时间内构建最精确的测试测量系统！想要了解并报名参加在您所在城市举行的研讨会，请点击这里在线报名；或选择邮寄、传真中的一种方式回复NI寄出的宴请函即可。

关于NI
美国国家仪器公司（NI）是虚拟仪器技术的创始人与倡导者，成立近30年以来，NI一直在为广大用户提供建立在诸如工业标准计算机及互联网等飞速发展的商业科技基础上的虚拟仪器解决方案，彻底改变着工程师和科学家们的工作方式。NI为用户提供易于集成的软件如图形化开发环境NI LabVIEW，以及模块化硬件如用于数据采集或用于数据采集、仪器控制和机器视觉的PXI模块化仪器，帮助全世界的用户们提高工作效率。NI总部设于美国德克萨斯州的奥斯汀，共拥有3100多名员工，在40个国家中设有分支机构。2003年度，全球共有90多个国家的超过25, 000家公司购买了NI产品。在过去连续五年里，《财富》杂志评选NI为全美最适合工作的100家公司之一。

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