机器视觉系统集成及表面检测的应用
——— ——第二届机器视觉论坛研讨会系列报道
2005/7/1 15:07:00
在第二届机器视觉论坛研讨会上,来自北京凌云光视数字图像技术公司的工程师为用户们介绍了机器视觉系统在表面检测中的应用案例。凌云公司强调,机器视觉系统不同于以往的传感器,普通的传感器强调的是信号采集和数据传递,而机器视觉系统强调的是智能分析。他们通过凹印大张质量在线检测系统及胶印大张质量检测分析等案例向用户介绍了机器视觉系统集成的概念、机器视觉在表面检测中的应用关键技术。
■机器视觉系统集成:
系统集成就是将各功能部分综合、有机整合为统一的系统;它要求对客户所在行业的业务、组织结构、现状、发展,有较好的理解和掌握;从系统的高度为客户需求提供解决方案;
■机器视觉系统的特点:
1、专业覆盖面广
以图像传感器为核心,覆盖光学、机械、电子、计算机、热学等领域;
2、应用范围广
90%的信息覆盖面,表面检测、模式识别、测量……
3、非接触测量、高精度、高速度、高稳定性;
4、智能化的检测不同于传感器
■表面测量产生的背景:
1、 用户对产品的要求越来越高;
2、 行业标准越来越严格;医药行业、包装行业、农业、工业、
3、 制造业自动化水平的提高,许多行业面临整个工艺流程的改革,给表面检测带来了大好机会;
■表面检测系统的基本原理:
表面检测系统由图像传感器、成像系统、照明系统、图像采集系统、图像处理系统组成;
■表面检测系统的关键技术:
1、 光电涣涣:CCD、CMOS、信噪比、量子效率、像元尺寸、长线阵、大面阵
2、 照明技术:特征提取、稳定性、均匀性、色温、光谱
3、 现场拼接技术:线阵相机拼接、面阵相机拼接、线阵CCD拼接
4、 图像校正技术:平场校正、暗场校正、颜色校正、畸变校正、多年相机一致性校正
5、 多通道数据采集和同步控制
6、 高速图像数据传输:LVDS、CamLink、USB、光纤、以太网
7、 自适应图像处理算法:定位、Blob分析、动态掩膜
■凹印大张质量在线检测系统
·实时在线检测
·检测印刷缺陷
黑点、缺印、拉脏、串色、白道、套印……
·声光报警、缺陷分类,缺陷标记系统;
·像元分辨率0.4×0.4平方毫米/pixel
·检测幅宽<830mm
·最高检测速度3m/s,最高行频7.23KHz
·检测能力≥1.5mm×1.5mm
·漏检率(≥1.5mm×1.5mm)≤0.03%
·误检率≤0.7%
·尺寸860×600×110立方毫米
·功耗<1000W
胶印大张质量检测分析仪
·胶印印刷质量数据化、标准化
偏色、混色、套印、缺印、缺陷、对印
·颜色测量
LAB颜色模型、HIS颜色模型
·荧光图案检测
·像元分辨率0.08×0.08平方毫米/pixel
·检测幅面820×640平方毫米
·检测速度≤5s/面
·功率≤6KW
■机器视觉系统集成:
系统集成就是将各功能部分综合、有机整合为统一的系统;它要求对客户所在行业的业务、组织结构、现状、发展,有较好的理解和掌握;从系统的高度为客户需求提供解决方案;
■机器视觉系统的特点:
1、专业覆盖面广
以图像传感器为核心,覆盖光学、机械、电子、计算机、热学等领域;
2、应用范围广
90%的信息覆盖面,表面检测、模式识别、测量……
3、非接触测量、高精度、高速度、高稳定性;
4、智能化的检测不同于传感器
■表面测量产生的背景:
1、 用户对产品的要求越来越高;
2、 行业标准越来越严格;医药行业、包装行业、农业、工业、
3、 制造业自动化水平的提高,许多行业面临整个工艺流程的改革,给表面检测带来了大好机会;
■表面检测系统的基本原理:
表面检测系统由图像传感器、成像系统、照明系统、图像采集系统、图像处理系统组成;
■表面检测系统的关键技术:
1、 光电涣涣:CCD、CMOS、信噪比、量子效率、像元尺寸、长线阵、大面阵
2、 照明技术:特征提取、稳定性、均匀性、色温、光谱
3、 现场拼接技术:线阵相机拼接、面阵相机拼接、线阵CCD拼接
4、 图像校正技术:平场校正、暗场校正、颜色校正、畸变校正、多年相机一致性校正
5、 多通道数据采集和同步控制
6、 高速图像数据传输:LVDS、CamLink、USB、光纤、以太网
7、 自适应图像处理算法:定位、Blob分析、动态掩膜
■凹印大张质量在线检测系统
·实时在线检测
·检测印刷缺陷
黑点、缺印、拉脏、串色、白道、套印……
·声光报警、缺陷分类,缺陷标记系统;
·像元分辨率0.4×0.4平方毫米/pixel
·检测幅宽<830mm
·最高检测速度3m/s,最高行频7.23KHz
·检测能力≥1.5mm×1.5mm
·漏检率(≥1.5mm×1.5mm)≤0.03%
·误检率≤0.7%
·尺寸860×600×110立方毫米
·功耗<1000W
胶印大张质量检测分析仪
·胶印印刷质量数据化、标准化
偏色、混色、套印、缺印、缺陷、对印
·颜色测量
LAB颜色模型、HIS颜色模型
·荧光图案检测
·像元分辨率0.08×0.08平方毫米/pixel
·检测幅面820×640平方毫米
·检测速度≤5s/面
·功率≤6KW
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