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为什么碳化硅Cascode JFET 可以轻松实现硅到碳化硅的过渡?

为什么碳化硅Cascode JFET 可以轻松实现硅到碳化硅的过渡?

2025/3/20 15:01:01

电力电子器件高度依赖于硅(Si)、碳化硅(SiC和氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)等半导体材料。虽然硅一直是传统的选择,但碳化硅器件凭借其优异的性能与可靠性而越来越受欢迎。相较于硅,碳化硅具备多项技术优势(图1),这使其在电动汽车、数据中心,以及直流快充储能系统光伏逆变器能源基础设施领域崭露头角,成为众多应用中的新兴首选技术。

 

 

Properties

特性

Si

4H-SiC

GaN

Energy(eV) Bandgap

禁带能量(eV)

1.12

3.26

3.50

Electron Mobility

(cm2/Vs)

电子迁移率(cm2/Vs)

1400

900

1250

Hole Mobility

(cm2/Vs)

空穴迁移率(cm2/Vs)

600

100

200

Breakdown Field

(MV/cm)

击穿电场(MV/cm)

0.3

2.0

3.5

Thermal Conductivity

(w/cm°c)

导热性(w/cm°c)

1.5

4.9

1.3

Maximum Junction

Temperature (°C)

最高结温 (°C)

150

600

400

 

1:硅器件Si)与碳化硅(SiC器件的比较

 

 

什么是碳化硅Cascode JFET技术?

 

众多终端产品制造商已选择碳化硅技术替代传统硅技术,基于双极结型晶体管(BJT)、结型场效应晶体管(JFET)、金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET绝缘栅双极晶体管(IGBT等器件开发电源系统。这些器件因各自特性(优缺点不同)而被应用于不同场景。

 

然而,安森美(onsemi)的EliteSiC 共源共栅结型场效应晶体管Cascode JFET器件(图2)将这一技术推向了新高度。该器件基于独特的"共源共栅Cascode)"电路配置——将常开型碳化硅JFET器件与硅MOSFET共封装,形成一个集成化的常型碳化硅FET器件。我们的碳化硅Cascode JFET能够轻松、灵活地替代IGBT、超结MOSFET以及碳化硅MOSFET等任何器件类型(图3)。

 

本文将深入探讨安森美EliteSiC Cascode JFET相较于同类碳化硅MOSFET的技术优势。

 

image.png 

2安森美碳化硅 Cascode JFET 器件框图

  

碳化硅相较于硅的技术优势

 

与硅器件相比,碳化硅Cascode JFET具备多项优势。碳化硅作为宽禁带材料,具有更高的击穿电压特性,这意味着其器件可采用更薄的结构支持更高电压。此外,碳化硅相较于硅的其他优势包括:

 

对于给定的电压与电阻等级,碳化硅可实现更高的工作频率,从而缩小元器件尺寸,显著降低系统整体尺寸与成本。

较高电压等级(1200V 或更高)应用中,碳化硅可以较低功率损耗实现高频开关。 而硅器件在此电压范围内几乎无法胜任。

任何给定的封装中,与硅相比,碳化硅器件具备更低的导通电阻(RDS(ON))和开关损耗。

在与硅器件相同的设计碳化硅能提供更高的效率和更出色的散热性能,甚至更高的系统额定功率。

 

 

 

碳化硅Cascode JFET 无缝升级替代硅基方案,卓越性能全面释放  

 

这些优势体现在安森美 EliteSiC Cascode JFET 的性能,这是一种更新功能更强大的器件,针对多种功率应用进行了优化。

 

硅基栅极驱动器兼容: 实现向碳化硅的无缝过渡

 

首先,碳化硅Cascode JFET 的结构允许使用标准硅栅极驱动器。 这简化了从硅基到碳化硅设计的过渡,提供了更大的设计灵活性。它们与各种类型的栅极驱动器兼容,包括为 IGBT、硅超结 MOSFET 和 碳化硅MOSFET 设计的驱动器。

 

image.png 

3:按电压分的功率半导体器件

 

 

其他优势

 

· 在给定封装,拥有业内领先的漏源导通电阻RDS(ON),可最大度地提高系统效率。

· 更低的电容允许更快的开关速度,因此可以实现更高的工作频率;这进一步减小了如电感器和电容器等大体积无源元件的尺寸。

· 与传统应用于这一细分领域的硅基IGBT相比,碳化硅Cascode JFET在更高电压等级(1200V或以上)下能够实现更高的工作频率,而硅基IGBT通常速度较慢,仅能在较低频率下使用,因此开关损耗较高。

· 安森美EliteSiC Cascode JFET器件在给定RDS(ON) 条件下,实现更小的片尺寸,并减轻碳化硅 MOSFET常见的栅极氧化层可靠性问题。

 

 

SiC MOSFET vs. 安森美SiC Cascode JFET:深入对比

 

让我们花一点时间来更深入地了解SiC MOSFET 与 安森美SiC JFET 技术之间的差异。 从下面的图 3 中我们可以看到,SiCMOSFET 技术不同于安森美的集成式SiCCascode JFET——这是精心设计的结果安森美设计的SiCJFET去掉了碳化硅MOSFET 的栅极氧化层,这不仅消除了沟道电阻,还让裸片尺寸更为紧凑

 

安森美碳化硅 JFET 较小的片尺寸成为其差异化优势一个关键所在,"RDS(ON) x A"RdsA品质因数 (FOM) 得以最佳体现,如图 4 所示。这意味着对于给定的芯片尺寸,SiCJFET 具有更低的导通电阻额定值,或者换言之,在相同 RDS(ON) 下,安森美SiC JFET 尺寸更小安森美 RdsA FOM 方面的卓越表现树立了行业领先地位体现在以相对较小的行业标准封装(如 TOLL D2PAK)提供的超低额定电阻产品。

 

image.png 

 

4碳化硅MOSFET 安森美Cascode JFET 的比较

(从外看,Cascode 是一种常 FET

 

SiCMOSFET 相比,EliteSiC Cascode JFET 具有更低的输出电容 Coss。输出电容较低的器件在低负载电流下开关速度更快,电容充电延迟时间更短。这意味着,由于减少了对电感器和电容器等大体积无源元件的需求,现在可以制造出更小、更轻、成本更低且功率密度更高的终端设备。

 

image.png 

5安森美碳化硅Cascode JFET 碳化硅 MOSFET 的竞争产品对比

 

以下是关于SiCMOSFET的其他挑战:

· 碳化硅MOS 沟道电阻高,导致电子迁移率较低。

· Vth 在栅极偏置较高的情况下会发生漂移,这意味着栅极到源极的电压驱动范围受到限制。

· 体二极管具有较高的拐点电压,因此需要同步整流。

 

然而,使用安森美SiCJFET,上述缺陷得以根本解决,因为:

· SiCJFET 结构的器件上摒弃 MOS(金属氧化物)结构,因此器件更加可靠。

· 在相同芯片面积下,漏极至源极电阻更低。

· 电容更低,这意味着更快的开关转换和更高的频率。

 

 

 

为什么选择安森美EliteSiC Cascode JFET

 

尽管市场上可供选择SiC功率半导体种类繁多,但在某些特定应用中,器件的表现确实比其他器件更为出色。安森美的集成式SiC Cascode JFET 便是其中的佼佼者,因其低 RDS(ON)、低输出电容和高可靠性等独特优势,能够提供卓越的性能。此外,碳化硅 Cascode JFET架构使用标准硅基栅极驱动器,简化了从硅到碳化硅的过渡过程,可在现有设计中实施。 因此,它为从硅到碳化硅的过渡提供了灵活性--实施简单,同时得益于SiC技术提供卓越的性能。

 

image.png 

6EliteSiC Cascode JFET

 

这些优点帮助安森美SiCCascode JFET 技术在其他技术无法企及的领域大放异彩。 碳化硅JFET 的增强性能使其在用于人工智能数据中心、储能直流快充 AC-DC 电源单元实现更高的效率。随着对更高功率密度和更紧凑外形需求的增加,安森美SiCCascode JFET 能够实现更小、更轻和更低成本的终端设备。由于减少了对电感器和电容器等大体积无源元件的需求,有助于实现更高的功率密度。


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柳威
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