工控网首页
>

产品选型

>

LAP 扫描式厚度测量仪

LAP 扫描式厚度测量仪

产品简介:

LAP 扫描式厚度测量仪实时的数据显示功能,便于快速控制,反应;超差报警功能;数据库系统,便于存档。

产品分类:

离散传感器

品牌:

LAP

产品介绍

结构特点
铝合金框架,坚固耐用
一体型伺服机构,精度高
扫描速度快
良好的防护装置
结构简单,使用安全激光测量
坚固的丝杠系统
西门子伺服系统
CE标准设计制造
免维护设计

性能特点

为客户度身定制的系统,灵活的设计和友好的软件界面使用户快速投入工厂的使用。

 实时的数据显示功能,便于快速控制,反应
 超差报警功能
 数据库系统,便于存档
 可视化曲线,直观
 系统具有网络接入口,适合工厂的网络化管理
 灵活的校验系统,使用简单
 测量结果的数据比对功能
 独立公差设定功能
 不同颜色显示超差数据
 标准化的报表输出功能
 软件具有数据统计分析功能,如Cp/Cpk等。
 软件可在Windows XP/2000/NT操作系统上使用,
也可以在Linux 或Sun Solaris操作系统上使用。

 

技术参数

参数

* 截面重复性小于0.2%


投诉建议

提交

查看更多评论
其他资讯

查看更多

激光测量在PCB行业的应用报告

LAP CALIX激光三角法测厚传感器

LAP ATLAS三角测量法激光位移传感器

LAP POLARIS系列三角测量法激光位移传感器

LAP轮胎行业质量控制应用报告-非接触式在线测厚