基于结构光投影技术的MikroCAD系列三维扫描仪非常适合用于检测和测量微米级的表面缺陷和几何尺寸。它紧凑的设计、标准化的连接方式和强大的软件使其集成和使用非常方便。六种不同的型号可供选择,涵盖工业测量领域各种不同分辨率和测量范围大小的应用和要求。
-高精度
-高重复性
-高速度
-易于集成
微米和亚微米级的测量精度
MIKROCAD三维扫描仪能够快速和准确的为生产线和研发部门提供亚微米级的三维检测,帮助用户获得最佳的质量控制。
强大的软件
MIKROCAD配套的测量和分析软件能够进行快速的测量并生成准确和有效的测量结果,同时还支持输出多种不同格式。针对特定行业的测量应用可提供定制化和模块化的测量方法。
灵活多样
MIKROCAD系列扫描仪可扩展为各种不同的型号来满足各种不同的测量场景,包括便携式应用如抽检和研发试验以及集成后在产线上实时稳定的测量,帮助用户在各个环节节约成本。
更多内容请访问 LMI Technologies Inc.(http://c.gongkong.com/?cid=54028)
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