基恩士 WI-5000 系列干涉式同轴 3D 位移测量仪
2018/1/19 15:12:54
产品简介：
针对最大 10 × 10 mm 的测量区域，可瞬间获取 8 万个点的高度。 由于采用白光干涉原理，不受材质/颜色、死角的影响，实现了微米级的高精度测量。
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产品介绍
1.并非以点线测量，而是以“面”进行测量
针对最大10×10 mm的测量区域，可瞬间获取8万个点的高度。由于采用白光干涉原理，不受材质/颜色、死角的影响，实现了微米级的高精度测量。
2.在线实现高速全数检测
测量多点时，需要高精度且高速扫描目标物。因此，往往会将时间浪费在移动载物台上，不易进行全数检测。由于WI-5000系列是以面进行同时测量，因此可大幅缩短测量时间，实现全数检测。
3.大幅削减离线检测工时
为了用于离线检测，备有可固定传感器头的专用底座。 配备可削减检测工时的各种实用功能。改善从简易测量到保存数据等各种情况的可操作性
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