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半导体银浆高度专用测量仪

供稿:zhipu 2009/1/10 10:05:04

人气:105

  • 型号:ZP1501

  • 数量:有现货

  • 制造商:广州市智浦电子科技

  • 有效期:2099/12/31 0:00:00

描述:

 

                                                                                

技术指标:

测量方式:非接触图像识别测量

     测量范围:10um—1mm(可定制其他范围)

测量精度等级:±1%(根据选择的放大倍数和用户拍摄图像清晰度有关)

易用性:用户非常方便操作测量,可以打印、保存测试结果

显微镜工业相机象素:300(可定制更高象素)

图像分辩率:1024x768(默认),最大1280x1024

图像刷新率:25/

放大倍数:1-100(可定制更大倍数)

测量角度:0-90

位置调整:XY双轴平台,底盘为360度旋转平台

编号输入:条形码

通讯接口: RS232接口,3线制

通信距离: RS232 5

    工作电压:DC12V/1A

仪器尺寸:600×650×500mm

工作温度:050

联系方式:
  • 电话:13640670774
  • 传真:020-28309056
  • email:dragongjb@126.com

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