9WF0424F6D03

• 型号：9WF0424F6D03


• 数量：1000


• 制造商：上海曦龙电气设备有限公司


• 有效期：2017/8/2 0:00:00

9WF0424F6D03

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　　在业内，风力发电机组，甚至被称为疲劳试验机，因为在其运行过程中，机械磨损等状况非常严重。随着其运行时间的延长，特别是在运行10年之后，各种问题会急剧频繁出现，导致运维成陡增。风电机组中的任何一个部件，每天都有损坏的概率，随着时间推移，尤其是磨损件，其更换的比例和数量会不断增加。

　　“理论上，任何一台风电机组在维护良好的情况下可以持久运转，甚至在超出20年使用寿命后也能够继续使用。例如，可以更换已损坏的部件，使风电场在超出标称设计寿命后仍能够继续运行。”一家风电整机商技术人士称。

　　但是，现实的状况是，随着服役时间的增长，老化的风机出现坠落、折断等重大事故的几率正在增大，其发电量已经开始下降，设备技术性能也已不能满足电网的要求，维护和保养成本大大增加。

　　“甚至有极端的现象是，老化风机运行所耗的电比所发的电还要多，那么，虽然这台风机还能运行，但已经不具备经济价值。”一位风电场项目先生表示，“在这种情况下，或是让旧风机提前退役，更换新风机，或对其翻新改造，延长其寿命，使其继续运行。但究竟采取哪一种方案，还要算一笔经济账。看看哪种方案更具经济性。”

control.Add("Freq",1.0E6,2.0) //指定信号频率参数

mySigSource.Setup(SENSOR,"AcSignal",control)

//给定信号的角色、类型和参数，并产生信号

IVI信号组件控制一台或多台仪器产生客户需要的信号，完成客户的测试需求。它对仪器的控制是通过VISA、IVI驱动器、SCPI命令等实现的。程序执行过程中，IVI信号组件需要的服务由IVI共用组件（如IVI Factory、IVI Configuration Store、IVI Event Server）提供。

测试资源信息是一个数据模块，用来存储IVI信号组件的测试/激励能力和配置信息，为用户选择仪器、设计测试方案提供参考；同时提供程序访问功能，实现测试资源的自动分配和信号路径的切换。它提供的IVI信号组件信息包括：

（1）组件支持的信号种类；

（2）每类信号需要的参数；

（3）每类信号的量程、精确定指标；

（4）IVI信号组件接口和仪器接口的连接关系等。

2.2 IVI-Signal Interface的信号类型标准

为了提高IVI信号组件的重用性和可移植性，组件开发者和使用者都迫切要求使用标准的接口信号信息，如信号类型、参数、物理意义等，因此信号类型的标准化问题亟待解决。IVI基金会没有严格定义接口信号类型标准，这需要由面向仪器控制的用户或其它组织来完成。在ATLAS测试语言标准中，用SMML定义了信号类型，笔者认为可以沿用这一定义。

2.3 仪器互换问题

更换仪器后，驱动器不再是困扰系统更新的难题，因为测试资源信息明确地描述了IVI信号组件的功能，标准的接口语义声明也明确地描述了组件的接口实现。设计人员可根据这些描述进行新仪器的IVI信号组件开发，实现同样的功能。

IVI信号组件提供了访问综合性仪器（Synthetic Instrument,即具备两类或多类仪器功能的仪器或仪器集合）的功能。在满足测试需求前提下，一个信号组件可以包含硬件仪器的部分或全部功能。这一切为仪器互换提供了广阔的空间，不但可以实现同类仪器、异类仪器的互换，还可以实现综合性仪器的互换。

3 基于信号接口的通用ATS软件设计

由以上分析可知，ATLAS 2K和IVI-Signal Interface有很多相似和互补的功能。比如，在一个测试系统中，ATLAS 2K面向UUT，实现代码移植和重用，而IVI-Signal Interface面向测试资源，实现了仪器互换；IVI-Signal Interface模型给ATLAS 2K代码提供了执行机制，而其也可沿用ATLAS 2K用SMML语言对信号类型定义的方法；二者均基于COM技术，提供了标准信号接口等。因此，通过信号接口集成二者，可实现通用ATS软件设计。

3.1 系统结构设计

基于信号接口的通用ATS软件结构框架如图4所示。

仪器信息模块是一个文件，它记录系统中所有仪器的测试功能信息，由IVI-Signal Interface模型提供。矩阵开关信息模块和适与器信息模块与仪器信息模块类似，前者记录了矩阵开关模块的连接信息；后者记录了适配器在UUT和矩阵开关之间的转换信息。

ATLAS 2K TPS根据自己对UUT的测试需求的描述，从Run-Time System请求相应的信号对象。若ATS的测试能力允许，Run-Time System开始查询从UUT到仪器端口的连接信息，并对其进行验证。这一切完成后，Run-Time System开始例化IVI-Signal Interface信号组件和ATLAS 2K信号组件，执行测试操作。

IVI-Sinal Interface组件和矩阵开关驱动器通过VISA、IVI-C、SCPI命令等控制底层仪器，在TPS执行期间，Run-Time System应自动完成测试资源的分配和信号路径的切换。

综上，基于信号接口的ATS软件设计可描述为：通过ATLAS 2K语言，将UUT的测试需求标定为对激励/测量信号的需求，这个虚拟资源需求通过设备驱动器接口内部服务机制的解释和定位转换成真资源，再驱动仪器完成测试任务。

3.2 系统实现

图5给出了基于信号接口开发ATS软件的全过程。

ATLAS 2K TPS和IVI-Signal Interface组件由COTS产品开发，如VB、VC++等。IVI-Signal Interface组件由系统方案设计者给出，由系统集成者使用。

使用Windows写字板记录测试资源信息，如设备信号、适配器信息等，并随同IVI信号组件一同发布。

IVI-Signal Interace标准和ATLAS 2K模型在功能上是互补的，二者的结合给通用ATS软件设计提供了解决方案，工程应用前景非常广阔。另外，二者均基于COM技术，不依赖于特定的开发工具，方便了系统的实现，节省了费用。同时，这一设计思想还可以有效地结合当前正在发展着的VXI、PXI、IVI-COM、VISA-COM等技术，为最终实现仪器互换和软件移植打下坚实的基础。当然，由于ATS设计的复杂性，有关细节仍需进一步论证，如资源自动分配的优化问题、信号路径切换的选择问题等。

随着微型化程度不断提高，元件和布线技术也取得巨大发展，例如BGA外壳封装的高集成度的微型IC，以及导体之间的绝缘间距缩小到0.5mm，这些仅是其中的两个例子。电子元件的布线设计方式，对以后制作流程中的测试能否很好进行，影响越来越大。下面介绍几种重要规则及实用提示。

通过遵守一定的规程（DFT-Design for Testability，可测试的设计），可以大大减少生产测试的准备和实施费用。这些规程已经过多年发展，当然，若采用新的生产技术和元件技术，它们也要相应的扩展和适应。随着电子产品结构尺寸越来越小，目前出现了两个特别引人注目的问题：一是可接触的电路节点越来越少；二是像在线测试（In-Circuit-Test）这些方法的应用受到限制。为了解决这些问题，可以在电路布局上采取相应的措施，采用新的测试方法和采用创新性适配器解决方案。第二个问题的解决还涉及到使原来作为独立工序使用的测试系统承担附加任务。这些任务包括通过测试系统对存储器组件进行编程或者实行集成化的元器件自测试（Built-in Self Test，BIST，内建的自测试）。将这些步骤转移到测试系统中去，总起来看，还是创造了更多的附加价值。为了顺利地实施这些措施，在产品科研开发阶段，就必须有相应的考虑。

什么是可测试性

可测试性的意义可理解为：测试工程师可以用尽可能简单的方法来检测某种元件的特性，看它能否满足预期的功能。简单地讲就是：

l         检测产品是否符合技术规范的方法简单化到什么程度？

l         编制测试程序能快到什么程度？

l         发现产品故障全面化到什么程度？

l         接入测试点的方法简单化到什么程度？

为了达到良好的可测试必须考虑机械方面和电气方面的设计规程。当然，要达到最佳的可测试性，需要付出一定代价，但对整个工艺流程来说，它具有一系列的好处，因此是产品能否成功生产的重要前提。

为什么要发展测试友好技术

过去，若某一产品在上一测试点不能测试，那么这个问题就被简单地推移到直一个测试点上去。如果产品缺陷在生产测试中不能发现，则此缺陷的识别与诊断也会简单地被推移到功能和系统测试中去。

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