F9025B24H

• 型号：F9025B24H


• 数量：1000


• 制造商：上海曦龙电气设备有限公司


• 有效期：2017/8/2 0:00:00

F9025B24H

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　　据介绍，除了提前退役的这一现象外，更常见的一种状况是，在达到风机的设计寿命后，开发商也希望通过尽可能少的维护费用尽量延长其使用寿命。

　　国际厂商大推翻新改造服务

　　无论是未达到设计寿命，性能就大幅衰减，还是达到设计寿命，希望其超期服役，都激发了对风机翻新及技术改造的市场需求。

　　目前，维斯塔斯、歌美飒、苏司兰等国际知名风电整机商都已开始提供风机翻新改造服务。老旧风机翻新改造被认为是继新机组生产制造之外的另一块利润丰厚的业务，并且呈现快速增长的态势。

　　全球风能行业顶尖服务供应商DEWI公司日前宣布将提供一项新的服务方案：延长风力发电机的使用寿命。DEWI相关负责人称，特别针对客户优化了各种可能的解决方案。在掌握有关剩余有用寿命（RUL）的技术后，DEWI工程师将进行详细的成本建模，以开发和评估不同的生命周期策略。其方案包括：优化资产内部收益率、优化项目融资、确定薄弱部件、优化操作等。

　　今年5月，在AWEA2015风电展会上，西班牙风电制造企业歌美飒也发布了其风机寿命延长计划。通过合理的运维评估和状态监测，在风电机组寿命的早期对风电机组损伤进行预防。在某些情况下在部件损坏前对其进行升级，基本上可以将旧部件更新。

　　歌美飒称，为适应老化机组的需要，他们提供一种行业认可的寿命延长服务，可以安全地将旧机组提高10年的设计寿命而焕然一新。其分析范围包括评估叶片、塔筒的基础的各个结构、电气部件、载荷分析，甚至包括机舱罩。

相反地，今天人们试图尽可能提前发现缺陷，它的好处不仅仅是成本低，更重要的是今天的产品非常复杂，某些制造缺陷在功能测试中可能根本检查不出来。例如某些要预先装软件或编程的元件，就存在这样的问题。（如快闪存储器或ISPs：In-System Programmable Devices系统内可编程器件）。这些元件的编程必须在研制开发阶段就计划好，而测试系统也必须掌握这种编程。

测试友好的电路设计要费一些钱，然而，测试困难的电路设计费的钱会更多。测试本身是有成本的，测试成本随着测试级数的增加而加大；从在线测试到功能测试以及系统测试，测试费用越来越大。如果跳过其中一项测试，所耗费用甚至会更大。一般的规则是每增加一级测试费用的增加系数是10倍。通过测试友好的电路设计，可以及早发现故障，从而使测试友好的电路设计所费的钱迅速地得到补偿。

文件资料怎样影响可测试性

只有充分利用元件开发中完整的数据资料，才有可能编制出能全面发现故障的测试程序。在许多情况下，开发部门和测试部门之间的密切合作是必要的。文件资料对测试工程师了解元件功能，制定测试战略，有无可争议的影响。

为了绕开缺乏文件和不甚了解元件功能所产生的问题，测试系统制造商可以依靠软件工具，这些工具按照随机原则自动产生测试模式，或者依靠非矢量相比，非矢量方法只能算作一种权宜的解决办法。

测试前的完整的文件资料包括零件表，电路设计图数据（主要是CAD数据）以及有关务元件功能的详细资料（如数据表）。只有掌握了所有信息，才可能编制测试矢量，定义元件失效样式或进行一定的预调整。

某些机械方面的数据也是重要的，例如那些为了检查组件的焊接是否良好及定位是否所需要的数据。最后，对于可编程的元件，如快闪存储器，PLD、FPGA等，如果不是在最后安装时才编程，是在测试系统上就应编好程序的话，也必须知道各自的编程数据。快闪元件的编程数据应完整无缺。如快闪芯片含16Mbit的数据，就应该可以用到16Mbit，这样可以防止误解和避免地址冲突。例如，如果用一个4Mbit存储器向一个元件仅仅提供300Kbit数据，就可能出现这种情况。当然数据应准备成流行的标准格式，如Intel公司的Hex或Motorola公司的S记录结构等。大多数测试系统，只要能够对快闪或ISP元件进行编程，是可以解读这些格式的。前面所提到的许多信息，其中许多也是元件制造所必须的。当然，在可制造性和可测试性之间应明确区别，因为这是完全不同的概念，从而构成不同的前提。

良好的可测试性的机械接触条件

如果不考虑机械方面的基本规则，即使在电气方面具有非常良好的可测试性的电路，也可能难以测试。许多因素会限制电气的可测试性。如果测试点不够或太小，探针床适配器就难以接触到电路的每个节点。如果测试点位置误差和尺寸误差太大，就会产生测试重复性不好的问题。在使用探针床配器时，应留意一系列有关套牢孔与测试点的大小和定位的建议。

最佳可测试性的电气前提条件

电气前提条件对良好的可测试性，和机械接触条件一样重要，两者缺一不可。一个门电路不能进行测试，原因可能是无法通过测试点接触到启动输入端，也可能是启动输入端处在封装壳内，外部无法接触，在原则上这两情况同样都是不好的，都使测试无法进行。在设计电路时应该注意，凡是要用在线测试法检测的元件，都应该具备某种机理，使各个元件能够在电气上绝缘起来。这种机理可以借助于禁止输入端来实现，它可以将元件的输出端控制在静态的高欧姆状态。

虽然几乎所有的测试系统都能够逆驱动（Backdriving）方式将某一节点的状态带到任意状态，但是所涉及的节点最好还是要备有禁止输入端，首先将此节点带到高欧姆状态，然后再“平缓地”加上相应的电平。

同样，节拍发生器总是通过启动引线，门电路或插接电桥从振荡器后面直接断开。启动输入端决不可直接与电路相连，而是通过100欧姆的电阻与电路连接。每个元件应有自己的启动，复位或控制引线脚。必须避免许多元件的启动输入端共用一个电阻与电路相连。这条规则对于ASIC元件也适用，这些元件也应有一个引线脚，通过它，可将输出端带到高欧姆状态。如果元件在接通工作电压时可实行复位，这对于由测试器来引发复位也是非常有帮助的。在这种情况下，元件在测试前就可以简单地置于规定的状态。

不用的元件引线脚同样也应该是可接触的，因为在这些地方未发现的短路也可能造成元件故障。此外，不用的门电路往往在以后会被利用于设计改进，它们可能会改接到电路中来。所以同样重要的是，它们从一开始就应经过测试，以保证其工件可靠。

改进可测试性

使用探针床适配器时，改进可测试性的建议

套牢孔

l         呈对角线配置

l         定位精度为±0.05mm （±2mil）

l         直径精度为±0.076/-0mm （+3/-0mil）

l         相对于测试点的定位精度为±0.05mm （±2mil）

l         离开元件边缘距离至少为3mm

l         不可穿通接触

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