- 型号:WPA-NIR
- 数量:1
- 制造商:PHL
- 有效期:2021/4/27 0:00:00
描述:
WPA-NIR
主要特点:
红外波长的双折射/相位差面分布测量
硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』,也可应用于量产现场
主要功能:
高速测量面的双折射/相位差分布
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
测量数据的保存/读取简单快捷
全部的测量结果都可以做保存/读取,易于跟过去的测量结果做比较等
丰富的图形创建功能
可以自由制作线图形和直方图
测量结果可以在一个图形上做比较,也可以用CSV格式输出
主要参数:
实际测量对比:
联系方式:
- 电话:010-69798892
- 传真:010-69798893
- email:tomlu@o-etek.com
更多内容请访问 lutao2k(http://home.gongkong.com/profile/?uid=2015020313130700001)
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