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在物联网的架构下，嵌入式测试测量技术，已成为智能应用的利器，并能有效促进制造系统智能化。如何运用这样的技术，进行设备监诊及预防保养以提高机台生产效能；而在测试测量的软件开发商，又有怎样的新发展？非常值得您的关注。敬请参加嵌入式测试测量趋势论坛，研华将携手业界专家与您分享！
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| 在线研讨会议程 |
主题 |
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讲者
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嵌入式测试测量新趋势
- 以预测分析为基础之智能监诊 |
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李杰 教授
(美国辛辛那提大学教授、
美国智能维修系统研究中心主任)
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..NETFramework的最新发展及未来趋势& 运用敏捷开发法 SCRUM进行项目规划 |
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李智桦 先生
(集英信诚资深顾问)
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研华嵌入式测试测量解决方案 |
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阮北山先生
(研华智能型
数据采集产品协理)
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| 在线研讨会讯息 |
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日期 |
5/20日(周二) |
时间 |
下午2:00~2:40 |
长度 |
40分钟 |
费用 |
免费 |
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