KEYENCE基恩士推出VK-X100/X200系列形状测量激光显微系统。
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激光扫描显微系统可以解决所有的课题 |
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使用激光显微系统则可全部简单地实现 |
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全方位性质的清晰观察 |
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从光学观察到类似于彩色 SEM 的高分辨率观察 |
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关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。 | |
16 bit 激光彩色观察 |
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在大气中以全方位性质的分辨率实现全焦观察。 |
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16 bit 激光彩色观察 |
在大气中以全方位性质的分辨率实现全焦观察。 |
通过短波长激光全面扫描,能够以光学显微镜无法实现的分辨率,按 200 至 24000 倍率* 实现全焦观察。 * VK-X200 系列时 |
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以类似于 SEM 的分辨率实现真彩观察。 |
对于由激光获取到的各像素均已正确对焦的高度的色彩信息,由 CCD 相机按每 1 像素分别提取,再转换成激光高分辨率图像。 |
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可运行所有表面形状测量 |
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对于拍摄到的图像可自由测量 |
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“想测量高低差· 形状实现数值化” |
[剖面 3D 测量] 高度· 宽度· 角度截面积测量 |
对测量屏幕上任意指定的直线或曲线的横截面轮廓,都可进行“高度”、“宽度”、“横截面”、“角度”、“R 值”等测量。 |
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表面积· 体积测量 |
测量屏幕上任何指定区域的“体积”、“表面积”、“ 面积∶表面积之比”。 |
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“想要将表面状态的差异实现数值化” |
[可以精确测量线粗糙度和面粗糙度] 线粗糙度测量 |
可以一边观察2D 或3D 图像,一边避开顶点或异物,测量目标部位的粗糙度。 |
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面粗糙度测量 |
从视觉上来讲存在差异,那么差异究竟有多大呢? 可以测量面的粗糙度,通过数值确认平均化后的差异。 (例)功能性薄膜的暗纹(3000 倍) |
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透明薄膜测量内置“独特的算法” |
不仅实现膜厚测量﹐还可获取最表面和背面的形状。 |
可对观察视野整个区域执行多层分析。可对已选的各层或多层进行 3D 图像显示、横截面轮廓显示,可测量任意位置的形状、薄膜厚度。 |
“想要一次性自动拍摄· 测量多个样本” |
[自动测量具备规则图形的工件] 自动宽度· 高度测量 |
对于具备规则图形的工件的宽度· 高度,按照设置条件自动测量。由于是自动测量,因此不会生成人员造成的误差,可以在短时间内完成测量。 |
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全自动测量 |
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谁都可以实现和熟练人员一样的测量 |
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通过融入长年专有经验的 AI-Scan,仅需按下“ 测量开始”按钮,便能得到符合样本的最佳设置,实现全自动测量。 |
[世界首创] AI-Scan 3 个功能 |
单击测量开始按钮便可实现 |
1. AAG 功能 |
对受光组件的激光受光灵敏度运行 2 项最佳调整。对于有斜度的样本或混合存在明暗的样本也可正确测量。 * AAG=Advanced Auto Gain |
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2. 自动上下限设置 |
对于样本的上下限在整个画面区域实现自动识别和设置,在上下限范围之内运行扫描和测量。 |
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3. 双扫描功能 |
识别到未有效拍摄的部分时,会自动改变设置,运行二次拍摄,获取正确的数据。 |
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广视野的测量 |
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通过 WIDE-Scan 简单 · 高速地实现广视野的测量 |
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课题 1 |
视野狭窄的话,无法明确正在观察哪个部位。还想观察周围。 |
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课题 2 |
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关于局部性的测量,会因拍摄部位不同而使数据生成偏差。 | |
目录下载:
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