邀请函 | 蔡司助力电子行业创新升级,诚邀您共襄中国光博会盛会
光电子器件是光电子技术的关键和核心部件,是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域,是信息技术的重要组成部分,具有低功耗、高速率、高可靠、小体积等突出优势。光电子器件应用范围十分广阔,如家用摄像机、手机相机等等,其使用范围难以胜数,是一个巨大的产业。
为了响应市场需求,蔡司将于9月11日至13日在深圳参展第二十五届中国国际光电博览会。蔡司诚邀各界专家、学者、合作伙伴及客户莅临展会,共同交流探讨光电子技术的最新发展与应用,期待与您携手掌控质量,共创光电子技术的美好未来。
邀请函
第二十五届中国国际光电博览会
时间:9月11日- 13日
地点:深圳国际会展中心(宝安新馆)
展位号:3B 53
本场展会蔡司解决方案提前通知!
复合式质量解决方案
聚焦光电领域 | O-INSPECT 863 duo (2024年新款)
多测头量测带来 PCB/Pin 针测量解决方案
优势:
• 大台面复合式测量设备
• 高分辨率彩色光学测量系统
• 全自动计量和检测、成像和记录多个部件。
• 三维尺寸、形位公差测量和缺陷检测
• 蔡司ZVP可缩短图像采集时间,测量速度提高 44%
• 两款专用软件
影像质量解决方案
O-DETECT 手机中框检测解决方案
线边影像量测 ZEISS O-DETECT 322
优势:
• 卓越的蔡司镜头系统
• 可变换的环形光
• 全景相机
• 稳定的精度
• Smart Visual Meas软件便利性
• 专业的PiWeb报告
光学仪器检测方案 | CONTURA
高性能三坐标测量机 CONTURA 7106+VAST XXT
优势:
• 小特征多角度,可以利用XXT TL3最小可以携带0.3mm探针 ,同时利用RDS功能2.5度的步进角度进行空间多角度测量
• CALYPSO的元素自动策略设置,加快检测程序编辑,包括程序元素位置的自动优化排序,适用于对电子连接器的检测。
显微分析质量解决方案
光学数码显微镜 | Smartzoom 5
挑战:
• PCB表面结构复杂
• 小至微米级尺寸的缺陷
• 缺陷可能分布于工件表面不同部位
使用Smartzoom 5检测PCB的优势:
• 全电动化部件设计
• 十倍变倍的高品质蔡司镜头
• 可左右倾斜观察的支架
• 多种照明方式
更有 #HandsOnMetrology 系列展出,提供蔡司蓝光手持式系列产品在光电子行业应用的展示;
ZEISS ATOS Q
• 结构光投影技术
• 半自动扫描
• 适用不同尺寸零件
• 三重扫描功能
METROTOM系列数据重构从投影至三维体积数据
我们诚挚邀请您前来蔡司展位(3B 53),与我们一同探索电子行业的最新技术突破和创新应用。蔡司始终致力于推动行业进步,此次展会将展示我们在电子领域应用的最新成果。期待您的光临,与我们共同展望电子行业的美好未来!
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