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邀请函 | 蔡司助力电子行业创新升级,诚邀您共襄中国光博会盛会

邀请函 | 蔡司助力电子行业创新升级,诚邀您共襄中国光博会盛会

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     光电子器件是光电子技术的关键和核心部件,是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域,是信息技术的重要组成部分,具有低功耗、高速率、高可靠、小体积等突出优势。光电子器件应用范围十分广阔,如家用摄像机、手机相机等等,其使用范围难以胜数,是一个巨大的产业。


     为了响应市场需求,蔡司将于9月11日至13日在深圳参展第二十五届中国国际光电博览会。蔡司诚邀各界专家、学者、合作伙伴及客户莅临展会,共同交流探讨光电子技术的最新发展与应用,期待与您携手掌控质量,共创光电子技术的美好未来。


邀请函

第二十五届中国国际光电博览会

时间:9月11日- 13日

地点:深圳国际会展中心(宝安新馆)

展位号:3B 53


本场展会蔡司解决方案提前通知!

复合式质量解决方案

聚焦光电领域 | O-INSPECT 863 duo (2024年新款)

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多测头量测带来 PCB/Pin 针测量解决方案

优势:

• 大台面复合式测量设备

• 高分辨率彩色光学测量系统

• 全自动计量和检测、成像和记录多个部件。

• 三维尺寸、形位公差测量和缺陷检测

• 蔡司ZVP可缩短图像采集时间,测量速度提高 44%

• 两款专用软件


影像质量解决方案

O-DETECT 手机中框检测解决方案


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线边影像量测 ZEISS O-DETECT 322

优势:

• 卓越的蔡司镜头系统

• 可变换的环形光

• 全景相机

• 稳定的精度

• Smart Visual Meas软件便利性

• 专业的PiWeb报告


光学仪器检测方案 | CONTURA

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高性能三坐标测量机 CONTURA 7106+VAST XXT

优势:

• 小特征多角度,可以利用XXT TL3最小可以携带0.3mm探针 ,同时利用RDS功能2.5度的步进角度进行空间多角度测量    

• CALYPSO的元素自动策略设置,加快检测程序编辑,包括程序元素位置的自动优化排序,适用于对电子连接器的检测。


显微分析质量解决方案

光学数码显微镜 | Smartzoom 5

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挑战:

• PCB表面结构复杂

• 小至微米级尺寸的缺陷

• 缺陷可能分布于工件表面不同部位

使用Smartzoom 5检测PCB的优势:

• 全电动化部件设计

• 十倍变倍的高品质蔡司镜头

• 可左右倾斜观察的支架

• 多种照明方式


更有 #HandsOnMetrology 系列展出,提供蔡司蓝光手持式系列产品在光电子行业应用的展示;

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ZEISS ATOS Q 

• 结构光投影技术

• 半自动扫描

• 适用不同尺寸零件

• 三重扫描功能


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METROTOM系列数据重构从投影至三维体积数据


     我们诚挚邀请您前来蔡司展位(3B 53),与我们一同探索电子行业的最新技术突破和创新应用。蔡司始终致力于推动行业进步,此次展会将展示我们在电子领域应用的最新成果。期待您的光临,与我们共同展望电子行业的美好未来!


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李娜
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