9LB1424H5J03

• 型号：9LB1424H5J03


• 数量：1000


• 制造商：上海曦龙电气设备有限公司


• 有效期：2017/8/2 0:00:00

9LB1424H5J03

工业风扇代理销售:

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　　翻新改造带来的益处甚至也引起决策者的注意。据悉，印度国家风能部将于2015年建立，届时将把翻新改造作为重要的政策工具助力其风电发展。

后期运维需未雨绸缪

　　对于风电行业来说，延长风电机组使用寿命等于增加了收益，但同时也意味着运行与维修成本增加，结构失效的风险性增大，由此产生的成本也会随之加大。但如果按期退役或提前退役，则无法获得更多的收益。

　　不过，DNV GL的能源咨询专家表示，运行时间并不是机组评估过程中唯一需要考虑的因素。一台风电机组的20年使用寿命并不会自动等同于疲劳寿命或组件故障时间。因此，监测疲劳累计损伤随时间的变化非常重要，相比过去对维护记录、风场记录和SCADA数据的综合分析，采集疲劳累计损伤数据会使分析效果更好。一些运维服务商采用主动而非被动的方法可有效延长风电机组的经济寿命。

　　当风电场进入运维后期，将通过何种策略保障发电量的稳定性？国内几家风电场相关人士向记者表示，目前对后期运维还没有具体的实施方案。

　　业内人士认为，这种情况也恰恰说明，我国风电行业一直以来都很看重项目初期投资，很少考虑整个风电场全生命周期的度电成本。

　　这种状况也与国内整个风电产业的发展阶段有关。2005年以前中国的风电装机仅100多万千瓦，只占现在装机总容量的1%左右。这意味99%以上的风机仍处于运行初期。

　　“就我国风电市场而言，虽然目前风机的翻新改造需求并不强烈，但是到2020年，机组的老化、以及翻新改造，延长使用寿命就可能变成一个迫切的问题。”前瞻产业研究院的相关研究指出。

　　一位行业分析人士称，我国在风机翻新及技术改造方面几乎仍是空白，相关企业应未雨绸缪，提前应对运维后期市场的临近。

l         不可穿通接触

测试点

l         尽可能为正方形

l         测试点直径至少为0.88mm （35mil）

l         测试点大小精度为±0.076mm （±3mil）

l         测试点之间间隔精度为±0.076mm （±3mil）

l         测试点间隔尽可能为2.5mm

l         镀锡，端面可直接焊接

l         距离元件边缘至少为3mm

l         所有测试点应可能处于插件板的背面

l         测试点应均匀布在插件板上

l         每个节点至少有一个测试点（100％通道）

l         备用或不用的门电路都有测试点

l         供电电源的多外测试点分布在不同位置

元件标志

l         标志文字同一方向

l         型号、版本、系列号及条形码明确标识

l         元件名称要清晰可见，且尽可能直接标在元件近旁

关于快闪存储器和其它可编程元件

快闪存储器的编程时间有时会很长（对于大的存储器或存储器组可达1分钟）。因此，此时不容许有其它元件的逆驱动，否则快闪存储器可能会受到损害。为了避免这种情况，必须将所有与地址总线的控制线相连的元件置于高欧姆状态。同样，数据总线也必须能够被置于隔绝状态，以确保快闪存储器为空载，并可进行下步编程。

系统内可编程元件（ISP）有一些要求，如Altera，XilinX和Lattuce等公司的产品，还有其它一些特殊要求。除了可测试性的机械和电气前提条件应得到保证外，还要保证具有编程和确证数据的可能性。对于Altera和Xilinx元件，使用了连串矢量格式（Serial Vector Format SVF），这种格式近期几乎已发展成为工业标准。许多测试系统可以对这类元件编程，并将连串矢量格式（SVF）内的输入数据用于测试信号发生器。通过边界扫描键（Boundary-Scan-Kette JTAG）对这些元件编程，也将连串数据格式编程。在汇集编程数据时，重要的是应考虑到电路中全部的元件链，不应将数据仅仅还原给要编程的元件。

编程时，自动测试信号发生器考虑到整个的元件链，并将其它元件接入旁路模型中。相反，Lattice公司要求用JEDEC格式的数据，并通过通常的输入端和输出端并行编程。编程后，数据还要用于检查元件功能。开发部门提供的数据应尽可能地便于测试系统直接应用，或者通过简单转换便可应用。

对于边界扫描（JTAG）应注意什么

由基于复杂元件组成精细网格的组件，给测试工程师只提供很少的可接触的测试点。此时也仍然可能提高可测试性。对此可使用边界扫描和集成自测试技术来缩短测试完成时间和提高测试效果。

对于开发工程师和测试工程师来说，建立在边界扫描和集成自测试技术基础上的测试战略肯定会增加费用。开发工程师必然要在电路中使用的边界扫描元件（IEEE-1149.1-标准），并且要设法使相应的具体的测试引线脚可以接触（如测试数据输入-TDI，测试数据输出-TDO，测试钟频-TCK和测试模式选择-TMS以及ggf.测试复位）。测试工程师给元件制定一个边界扫描模型（BSDL-边界扫描描述语言）。此时他必须知道，有关元件支持何种边界扫描功能和指令。边界扫描测试可以诊断直至引线级的短路和断路。除此之外，如果开发工程师已作规定，可以通过边界扫描指令“RunBIST”来触发元件的自动测试。尤其是当电路中有许多ASICs和其它复杂元件时，对于这些元件并不存在惯常的测试模型，通过边界扫描元件，可以大大减少制定测试模型的费用。

时间和成本降低的程度对于每个元件都是不同的。对于一个有IC的电路，如果需要100％发现，大约需要40万个测试矢量，通过使用边界扫描，在同样的故障发现率下，测试矢量的数目可以减少到数百个。因此，在没有测试模型，或接触电路的节点受到限制的条件下，边界扫描方法具有特别的优越性。是否要采用边界扫描，是取决于开发利用和制造过程中增加的成本费用。衽边界扫描必须和要求发现故障的时间，测试时间，进入市场的时间，适配器成本进行权衡，并尽可能节约。在许多情况下，将传统的在线测试方法和边界扫描方法混合盐业的方案是最佳的解决方式。

在现代工业生产和科学技术研究的各行业中，通常需要对各种数据进行采集。目前通用的通过数据采集板卡采集的方法存在着以下缺点：安装麻烦，易受机箱内环境的干扰而导致采集数据的失真，易受计算机插槽数量和地址、中断资源的限制，可扩展性差。而通用串行总线USB(Universal Serial Bus)的出现，很好地解决了上述问题，很容易实现便捷、低成本、易扩展、高可靠性的数据采集，代表了现代数据采集系统的发展趋势。

1系统硬件设计与实现

1．1硬件总体结构

基于USB总线的实时数据采集系统硬件组成包括模拟开关、A／D转换器、单片机、USB接口芯片，其硬件总体结构如图1所示。多路模拟信号经过模拟开关传到A／D转换器转换为数字信号，单片机控制采集，USB接口芯片存储采集到的数据并将其上传至PC，同时也接收PC机USB控制器的控制信息。

1．2 PDIUSBDl2芯片

USB接口芯片采用Philips公司的一种专用芯片PDIUS-BDl2(以下简称D12)。该芯片完全符合USBl．1规范，集成了SIE、320B的多配置FIFO存储器、收发器、电压调整器、SoftConnect、GoodLink、可编程时钟输出、低频晶振和终端电阻等，支持双电压工作、完全自动DMA操作、多中断模式，内部结构如图2所示。

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